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Occhio Zephyr系列粒徑及形態(tài)分析儀將圖像這一直觀的觀察測(cè)量方法與統(tǒng)計(jì)學(xué)相結(jié)合的圖像法顆粒粒度粒形表征不僅能夠得到個(gè)別顆粒的直觀信息，還能夠得到 樣品的粒徑和形貌的統(tǒng)計(jì)信息，從而幫助使用者表征樣品。
地址：北京市昌平區(qū)西三旗建材城西路新龍大廈A座2010室
郵箱：cici.ding@insearch-tech.com
傳真：86-10-81706682
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